Image Details

Choose export citation format:

The Second Catalog of Flaring Gamma-Ray Sources from the Fermi All-sky Variability Analysis

  • Authors: S. Abdollahi, M. Ackermann, M. Ajello, A. Albert, L. Baldini, J. Ballet, G. Barbiellini, D. Bastieri, J. Becerra Gonzalez, R. Bellazzini, E. Bissaldi, R. D. Blandford, E. D. Bloom, R. Bonino, E. Bottacini, J. Bregeon, P. Bruel, R. Buehler, S. Buson, R. A. Cameron, M. Caragiulo, P. A. Caraveo, E. Cavazzuti, C. Cecchi, A. Chekhtman, C. C. Cheung, G. Chiaro, S. Ciprini, J. Conrad, D. Costantin, F. Costanza, S. Cutini, F. D'Ammando, F. de Palma, A. Desai, R. Desiante, S. W. Digel, N. Di Lalla, M. Di Mauro, L. Di Venere, B. Donaggio, P. S. Drell, C. Favuzzi, S. J. Fegan, E. C. Ferrara, W. B. Focke, A. Franckowiak, Y. Fukazawa, S. Funk, P. Fusco, F. Gargano, D. Gasparrini, N. Giglietto, M. Giomi, F. Giordano, M. Giroletti, T. Glanzman, D. Green, I. A. Grenier, J. E. Grove, L. Guillemot, S. Guiriec, E. Hays, D. Horan, T. Jogler, G. Jóhannesson, A. S. Johnson, D. Kocevski, M. Kuss, G. La Mura, S. Larsson, L. Latronico, J. Li, F. Longo, F. Loparco, M. N. Lovellette, P. Lubrano, J. D. Magill, S. Maldera, A. Manfreda, M. Mayer, M. N. Mazziotta, P. F. Michelson, W. Mitthumsiri, T. Mizuno, M. E. Monzani, A. Morselli, I. V. Moskalenko, M. Negro, E. Nuss, T. Ohsugi, N. Omodei, M. Orienti, E. Orlando, V. S. Paliya, D. Paneque, J. S. Perkins, M. Persic, M. Pesce-Rollins, V. Petrosian, F. Piron, T. A. Porter, G. Principe, S. Rainò, R. Rando, M. Razzano, S. Razzaque, A. Reimer, O. Reimer, C. Sgrò, D. Simone, E. J. Siskind, F. Spada, G. Spandre, P. Spinelli, L. Stawarz, D. J. Suson, M. Takahashi, K. Tanaka, J. B. Thayer, D. J. Thompson, D. F. Torres, E. Torresi, G. Tosti, E. Troja, G. Vianello, and K. S. Wood

2017 The Astrophysical Journal 846 34.

  • Provider: AAS Journals

Caption: Figure 6.

Weekly light curves from the direction of the pulsar binary system PSR B1259−63/LS 2883 (2FAV J1302−63.7). The top panels show the relative variation of counts, ﹩{\rm{\Delta }}{N}_{\mathrm{rel}}=(N-{N}^{\exp })/{N}^{\exp },﹩ where N is the number of observed counts in a given time bin and Nexp is the number of expected counts. The bottom panels show the significance that corresponds to these counts variations. Plots on the left refer to low-energy analysis, while the ones on the right refer to high-energy analysis.

Other Images in This Article
Copyright and Terms & Conditions