Image Details

Choose export citation format:

Extreme PeV Accelerator Associated with GRS 1915+105

  • Authors: Zhen Cao, F. Aharonian, Y. X. Bai, Y. W. Bao, D. Bastieri, X. J. Bi, Y. J. Bi, W. Bian, J. Blunier, A. V. Butkevich, C. M. Cai, W. Y. Cao, Zhe Cao, J. Chang, J. F. Chang, E. S. Chen, G. H. Chen, H. K. Chen, L. F. Chen, Liang Chen, Long Chen, M. J. Chen, M. L. Chen, Q. H. Chen, S. Chen, S. H. Chen, S. Z. Chen, T. L. Chen, X. B. Chen, X. J. Chen, X. P. Chen, Y. Chen, N. Cheng, Q. Y. Cheng, Y. D. Cheng, M. Y. Cui, S. W. Cui, X. H. Cui, Y. D. Cui, B. Z. Dai, H. L. Dai, L. X. Dai, Z. G. Dai, Danzengluobu, Y. X. Diao, A. J. Dong, X. D. Duan, J. H. Fan, Y. Z. Fan, J. Fang, J. H. Fang, K. Fang, C. F. Feng, H. Feng, L. Feng, S. H. Feng, X. T. Feng, Y. Feng, Y. L. Feng, S. Gabici, B. Gao, Q. Gao, W. Gao, C. Ge, M. M. Ge, T. T. Ge, L. S. Geng, G. Giacinti, G. H. Gong, Q. B. Gou, M. H. Gu, W. M. Gu, F. L. Guo, J. Guo, K. J. Guo, X. L. Guo, Y. Q. Guo, R. P. Han, O. A. Hannuksela, M. Hasan, H. H. He, H. N. He, J. Y. He, X. Y. He, Y. He, S. Hernández-Cadena, C. Hou, X. Hou, H. B. Hu, S. C. Hu, D. H. Huang, F. Huang, J. J. Huang, X. L. Huang, X. T. Huang, X. Y. Huang, Y. Huang, Z. J. Huang, A. Inventar, X. L. Ji, H. Y. Jia, K. Jia, H. B. Jiang, K. Jiang, X. W. Jiang, Z. J. Jiang, M. Jin, S. Kaci, M. M. Kang, I. Karpikov, D. Khangulyan, D. Kuleshov, W. H. Lei, Cheng Li, Cong Li, D. Li, F. Li, H. B. Li, H. C. Li, Jian Li, Jie Li, K. Li, L. Li, R. L. Li, T. Y. Li, W. L. Li, X. R. Li, X. Y. Li, Y. Li, Zhe Li, Zhuo Li, E. W. Liang, Y. F. Liang, S. J. Lin, B. Liu, C. Liu, D. Liu, D. B. Liu, H. Liu, J. Liu, J. L. Liu, J. R. Liu, M. Y. Liu, R. Y. Liu, S. M. Liu, T. Liu, W. Liu, Y. Liu, Y. Liu, Y. N. Liu, Y. Q. Lou, Q. Luo, Y. Luo, H. K. Lv, B. Q. Ma, L. L. Ma, X. H. Ma, I. O. Maliy, J. R. Mao, Z. Min, W. Mitthumsiri, Y. Mizuno, G. B. Mou, A. Neronov, K. C. Y. Ng, S. C.-Y. Ng, M. Y. Ni, L. Nie, L. J. Ou, Z. W. Ou, P. Pattarakijwanich, Z. Y. Pei, D. Y. Peng, J. C. Qi, M. Y. Qi, J. J. Qin, H. L. Qu, A. Raza, C. Y. Ren, M. Q. Ruan, D. Ruffolo, A. Sáiz, D. Savchenko, D. Semikoz, L. Shao, O. Shchegolev, Y. Z. Shen, X. D. Sheng, F. W. Shu, H. C. Song, Yu. V. Stenkin, Y. Su, C. Y. Sun, D. X. Sun, H. Sun, J. X. Sun, M. Sun, Q. N. Sun, X. N. Sun, Z. B. Sun, N. H. Tabasam, J. Takata, P. H. T. Tam, H. B. Tan, Q. W. Tang, R. Tang, Z. B. Tang, W. W. Tian, C. N. Tong, L. H. Wan, C. Wang, D. H. Wang, G. W. Wang, H. G. Wang, J. C. Wang, J. F. Wang, J. S. Wang, K. Wang, Kai Wang, Kai Wang, L. P. Wang, L. Y. Wang, W. Wang, X. G. Wang, X. J. Wang, X. Y. Wang, Y. Wang, Y. D. Wang, Z. H. Wang, Z. X. Wang, Zheng Wang, D. M. Wei, J. J. Wei, Y. J. Wei, T. Wen, S. S. Weng, C. Y. Wu, H. R. Wu, Q. W. Wu, S. Wu, X. F. Wu, Y. S. Wu, S. Q. Xi, J. Xia, G. M. Xiang, D. X. Xiao, G. Xiao, Y. F. Xiao, B. H. Xie, Y. L. Xin, H. D. Xing, Y. Xing, D. R. Xiong, B. N. Xu, C. Y. Xu, D. L. Xu, R. X. Xu, S. S. Xu, L. Xue, D. H. Yan, T. Yan, C. Y. Yang, F. F. Yang, L. L. Yang, M. J. Yang, R. Z. Yang, W. X. Yang, Z. H. Yang, Z. G. Yao, X. A. Ye, L. Q. Yin, N. Yin, X. H. You, Z. Y. You, Y. H. Yu, Q. Yuan, H. Yue, H. D. Zeng, T. X. Zeng, W. Zeng, X. T. Zeng, M. Zha, B. Zhang, B. B. Zhang, B. T. Zhang, C. Zhang, H. Zhang, H. M. Zhang, H. Y. Zhang, J. L. Zhang, J. Y. Zhang, L. Y. Zhang, Li Zhang, P. F. Zhang, R. Zhang, R. Y. Zhang, S. R. Zhang, S. S. Zhang, S. Y. Zhang, W. Zhang, X. Zhang, X. L. Zhang, X. P. Zhang, Yi Zhang, Yong Zhang, Z. P. Zhang, J. Zhao, L. Zhao, L. Z. Zhao, X. H. Zhao, F. Zheng, T. C. Zheng, B. Zhou, H. Zhou, J. N. Zhou, L. Zhou, M. Zhou, P. Zhou, R. Zhou, X. X. Zhou, X. X. Zhou, B. Y. Zhu, C. G. Zhu, F. R. Zhu, H. Zhu, K. J. Zhu, Y. F. Zhu, Z. F. Zhu, Y. C . Zou, X. Zuo

Zhen Cao et al 2026 The Astrophysical Journal Letters 1011 .

  • Provider: AAS Journals

Caption: Figure B7.

The likelihood profile of the flux of the last measured point of intrinsic LP spectrum. The dashed green line indicates the best-fit value. The gray shaded region is the 1σ statistical error of the flux.

Other Images in This Article

Show More

Copyright and Terms & Conditions

Additional terms of reuse